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您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 > 光耦參數(shù)測試儀 光耦參數(shù)測試儀型號：JFY3010A
詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數(shù)測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數(shù)測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規(guī)模MCU設(shè)計,中文界面操作,大容量內(nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數(shù):
參數(shù)指標(biāo)表:
參數(shù)項 | 測試參數(shù) | 測試條件設(shè)置 |
輸入正向壓降(VF) | 0-2.000V | 0-400MA |
耐壓(BVCEO) | 0-1200V | 0-2.000MA |
傳輸比(CTR) | 0-3000 | VCE:0-20V IC:0-2.000A |
飽和壓降(Vsat) | 0-2.000V | IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
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